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「戦後日本鉄鋼業における川崎製鉄の革新性

米倉誠一郎
『一橋論叢』 90巻 3号 387-410頁 (1983/09)

  • 技術史
  • 論文

    関連URL:

    Infrared rapid thermal annealing for GaAs device fabrication

    Kohzu, Hideaki
    『Journal of Applied Physics』 Vol. 54 Issue 9 pp. 4998-5003 (with coauthors) (1983/09)

    • 技術経営
    • 論文

      関連URL:

      Electrical properties of S implants in GaAs activated by infrared rapid thermal annealing

      Kohzu, Hideaki
      『Journal of Applied Physics』 Vol. 54 Issue 6 pp. 3121-3124 (with coauthors) (1983/06)

      • 技術経営
      • 論文

        関連URL:

        戦後日本鉄鋼業試論:その連続性と非連続性

        米倉誠一郎
        『ビジネス レビュー』 31巻 2号 67-87頁 (1983)

        • 技術史
        • 論文

          関連URL:

          Infrared rapid thermal annealing of Si -implanted GaAs

          Kohzu, Hideaki
          『Applied Physics Letters』 Vol. 41 Issue 8 pp. 755-758 (with coauthors) (1982/10/15)

          • 技術経営
          • 論文

            関連URL:

            政府士族授産政策と小野田セメント

            米倉誠一郎
            『一橋論叢』 87巻 3号 377-394頁 (1982/03)

            • 技術史
            • 論文

              関連URL:

              企業活動の史的展開(4):小野田セメントにおける士族授産企業脱皮過程

              米倉誠一郎, 米川伸一:平田光弘(編)『企業活動の理論と歴史』 第9章,237-263頁
              千倉書房(1982)

              • 技術史
              • 本の一章執筆

                関連URL:

                Selenium Implantation in Epitaxial Gallium Arsenide Layers

                Kohzu, Hideaki
                『Nuclear Instruments and Methods』 Vols. 182-183 Part 2 pp. 709-717 (with coauthors) (1981/04/15)

                • 技術経営
                • 論文

                  関連URL:

                  Screenig and Testing Techniques for GaAs Power MESFETs

                  Kohzu, Hideaki
                  International Symposium for Testing & Failure Analysis (with coauthors) (1979)

                  • 技術経営
                  • ワーキングペーパー

                    関連URL:

                    GaAs FET とその応用

                    神津英明
                    『電子通信学会誌』 59巻 8号 pp. 857-865 (共著) (1976/08)

                    • 技術経営
                    • 論文

                      関連URL:

                      Reliability Study of GaAs MES FETs

                      kohzu, Hideaki
                      『IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques』 Vol. 24 Issue 6 pp. 321-328 (with coauthors) (1976/06)

                      • 技術経営
                      • 論文

                        関連URL:

                        Reliability Studies of one-micron Schottky Gate GaAs FET

                        Kohzu, Hideaki
                        『IEDM』 p. 247 (1975)

                        • 技術経営
                        • 論文

                          関連URL: